Determination of the refractive indices of AlN, GaN, and AlxGa1−xN grown on (111)Si substrates - Centre de Recherche sur l'Hétéro-Epitaxie et ses Applications Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2003

Determination of the refractive indices of AlN, GaN, and AlxGa1−xN grown on (111)Si substrates

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Dates et versions

hal-03935128 , version 1 (11-01-2023)

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Citer

N. Antoine-Vincent, F. Natali, M. Mihailovic, A. Vasson, J. Leymarie, et al.. Determination of the refractive indices of AlN, GaN, and AlxGa1−xN grown on (111)Si substrates. Journal of Applied Physics, 2003, 93 (9), pp.5222-5226. ⟨10.1063/1.1563293⟩. ⟨hal-03935128⟩
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