Determination of the refractive indices of AlN, GaN, and AlxGa1−xN grown on (111)Si substrates
N. Antoine-Vincent
(1)
,
F. Natali
(2)
,
M. Mihailovic
(1)
,
A. Vasson
(1)
,
J. Leymarie
(1)
,
P. Disseix
(1)
,
D. Byrne
(2)
,
F. Semond
(2)
,
J. Massies
(2)
N. Antoine-Vincent
- Fonction : Auteur
- PersonId : 181535
- IdHAL : nadege-ollier
- ORCID : 0000-0003-1691-0087
J. Leymarie
- Fonction : Auteur
- PersonId : 835166