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Bienvenue sur la collection HAL du laboratoire CROMA
CROMA (Centre de Radiofréquences Optique et Micro-Nanoélectronique des Alpes), anciennement IMEP-LAHC, est une Unité Mixte de Recherche "UMR 5130" (CNRS / Grenoble INP / UGA / Université SAVOIE Mont-Blanc), fortement impliquée dans les recherches relatives à la micro et nano électronique, à la microphotonique, aux micro et nano-systèmes, aux microondes et optomicroondes.
Les activités de recherche sont regroupées autour de 3 équipes : Dispositifs HypeRfréquences pour l'Electronique durAble et les Milieux complexeS (DHREAMS), Composants Micro Nano Electroniques (CMNE) et PHOtonique, Térahertz et Optoélectronique (PHOTO).
Dernières publications
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Raphaël Pederiva, Philippe Artillan, Clément Geffroy, Christopher Bäuerle, Jean-François Roux. A Method for Measuring the Complex Refractive Index of Low-Volume Materials Using Integrated Terahertz Time-Domain Transmissometry. IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology, 2025, 15 (1), pp.69-75. ⟨10.1109/TTHZ.2024.3475041⟩. ⟨hal-04722575⟩
Collaborations
Documents en texte intégral
720
Notices
3 161
Mots clés
ESD
Low frequency noise
Radiofréquences
Threshold voltage
Permittivity
Thin film
Variabilité
Pseudo-MOSFET
Mismatch
Metal gate
Mosfet
Nanofil
Solar cell
Tunnel FET
ZnO nanowires
ZnO
GaN
Logic gates
Coplanar waveguide
HfO2
Magnetoresistance
FDSOI
SFQ
Transistor MOS
Fdsoi
Silicon
Parameter extraction
Antenna
Caractérisation électrique
Simulation
Nanowire
Metamaterials
Modelling
Josephson junction
A2RAM
CMOS integrated circuits
Field effect transistors
2DEG
Authentication
Elemental semiconductors
MOSFET
Reliability
Silicon nanowire
Nanogenerators
Nanostructures
Band modulation
Compact model
Low temperature
Silicon-on-insulator
Fiabilité
Nanonet
Ion exchange
Variability
Z2-FET
Low-frequency noise
Biosensor
Silicon carbide
Silicon-on-insulator SOI
SOI
Optique intégrée
Characterization
Transistor
Antenne
Sharp switch
3D integration
1T-DRAM
FinFET
SiGe
Air-filled substrate integrated waveguide AFSIW
DRAM
TCAD
Josephson junctions
Mobility
Electrical characterization
CMOS
BIMOS
Integrated optics
Nanowires
Microélectronique
Drain current
SQUID
Terahertz
Random Telegraph Noise
Modélisation
FD-SOI
Modeling
Mechanical energy harvesting
Rectenna
Transistors
Energy harvesting
Compact modeling
AlGaN/GaN
Superconducting electronics
MOSFETs
Piezoelectricity
TFET
Capacitance
Annealing
Graphene
Caractérisation