A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact - Institut Lumière Matière Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01464995 , version 1 (10-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01464995 , version 1

Citer

S. Gomès, D. Renahy, P. Vincent. A Combined SThM/SEM Instrument For The Investigation Of Influent Parameters In Nano-scale Thermal Contact. Minicolloque Nanoconduction et Nanoradiation, [LRA] en Nanothermique, Jul 2016, Lyon, France. ⟨hal-01464995⟩
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