Chapitre D'ouvrage
Année : 2007
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00397867
Soumis le : mardi 23 juin 2009-14:47:58
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00397867 , version 1
Citer
Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis. Using the SEEM software for SET testing and analysis. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.259-268, 2007. ⟨hal-00397867⟩
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