Article Dans Une Revue
AIP Conference Proceedings
Année : 2017
Philippe Jonnard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02925865
Soumis le : lundi 31 août 2020-09:02:19
Dernière modification le : mercredi 13 mars 2024-10:34:11
Citer
Amol Singh, Mohammed H. Modi, R. Dhawan, P. Jonnard, K. Le Guen, et al.. Study of complex waveguide structure using soft X-ray reflectivity technique. AIP Conference Proceedings, 2017, pp.080093. ⟨10.1063/1.4980553⟩. ⟨hal-02925865⟩
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