Caractérisation de multicouches nanométriques par PIXE-Kossel - Laboratoire de Chimie Physique-Matière et Rayonnement Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Caractérisation de multicouches nanométriques par PIXE-Kossel

Sébastien Steydli
Zhanshan Wang
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 923489

Résumé

Il est possible de connaître l'état physico-chimique d'un atome en examinant son spectre d'émission X. Pour cela une bonne résolution spectrale est nécessaire. En conséquence le rayonnement polychromatique émis par l'échantillon doit être analysé en spectroscopie à dispersion de longueur d'onde (ou WDS, wavelength dispersive spectrometry). Les spectromètres WDS comportent un élément dispersant le rayonnement X, cristal, pseudo-cristal ou réseau, et un détecteur.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03932230 , version 1 (02-02-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03932230 , version 1

Citer

Meiyi Wu, Karine Le Guen, Jean-Michel André, V. Ilakovac, Jiaping Zhang, et al.. Caractérisation de multicouches nanométriques par PIXE-Kossel. Journées de la Matière Condensée, Caractérisation physico-chimique en MEB et microsonde, Aug 2018, Grenoble, France. ⟨hal-03932230⟩
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