ESSAIS DE CARACTÉRISATION DE LA SÉGRÉGATION INTERGRANULAIRE DANS LES JOINTS DE GRAINS D'ALLIAGES Ni - Si EN ANALYSE PAR EMISSION X - STEM - Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal de Physique Colloques Année : 1984

ESSAIS DE CARACTÉRISATION DE LA SÉGRÉGATION INTERGRANULAIRE DANS LES JOINTS DE GRAINS D'ALLIAGES Ni - Si EN ANALYSE PAR EMISSION X - STEM

Résumé

Nous mettons en évidence la ségrégation du silicium dans les joints de grains du nickel contenant 1,3% de silicium atomique en matrice. La mesure est faite par analyse directe des joints de grains en émission X sur STEM.

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jpa-00224010 , version 1 (04-02-2008)

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Citer

Luc Beaunier, H. Dexpert, Colette Vignaud. ESSAIS DE CARACTÉRISATION DE LA SÉGRÉGATION INTERGRANULAIRE DANS LES JOINTS DE GRAINS D'ALLIAGES Ni - Si EN ANALYSE PAR EMISSION X - STEM. Journal de Physique Colloques, 1984, 45 (C2), pp.C2-419-C2-422. ⟨10.1051/jphyscol:1984295⟩. ⟨jpa-00224010⟩
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