Mécanisme de croissance et formation des défauts dans les couches minces en microscopie et diffraction électroniques
Résumé
On étudie la formation des dislocations, défauts d'empilements, parois de double positionnement, macles... en se rattachant au mécanisme de nucléation et de croissance. On examine plus particulièrement le cas des dislocations interfaciales lors de la croissance couche par couche. Dans le cas de la nucléation tridimensionnelle, on étudie les défauts formés par la coalescence des îlots. La nucléation d'agrégats paracristallins se transformant en cristallites multimaclés est aussi considérée. On montre que ces arrangements de macles sont très importants pour la formation de couches à structures dendritique ou texturée.
Mots clés
crystal defects
dislocation structure
electron diffraction examination of materials
electron microscope examination of materials
thin films
twinning
stacking faults
double positioning boundaries
twins
nucleation
growth
dislocations
nucleation of paracrystallite clusters
textured films
dendritic films
electron diffraction
electrons microscopy
Origine : Accord explicite pour ce dépôt
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