Pleasant noise: an atomic scale insight
Le bruit agréable, un aperçu à l'échelle atomique
Résumé
In the quest to understand the behaviour of matter down to the smallest detail, a dazzling array of experimental techniques is available. Often, a single technique can address multiple physical aspect by changing external input parameters such as temperature, magnetic field and pressure, and for even more detailed information different techniques can be used simultaneously. Unfortunately, some combinations are not technically feasible under the exact same conditions making one‐to‐one comparison of results challenging, or can only be applied in a very narrow range of parameter space. Until recently, the latter was the case for current‐noise measurements using a scanning tunnelling microscope. This dissertation describes a solution to broaden the scope of both current‐noise measurements and scanning tunnelling microscopy and spectroscopy. After introducing both techniques, the method used to simultaneously perform current‐noise and conventional STM/S measurements is described. Finally, a number of different studies on superconductors and semiconductors performed with this new technique are discussed, showcasing the myriad of possibilities and insights that can be obtained in the study of quantum matter.
Pour comprendre le comportement de la matière dans ses moindres détails, on dispose d'un éventail impressionnant de techniques expérimentales. Souvent, une seule technique peut aborder plusieurs aspects physiques en modifiant les paramètres d'entrée externes tels que la température, le champ magnétique et la pression, et pour obtenir des informations encore plus détaillées, différentes techniques peuvent être utilisées simultanément. Malheureusement, certaines combinaisons ne sont pas techniquement réalisables dans les mêmes conditions, ce qui complique la comparaison des résultats, ou ne peuvent être appliquées que dans une gamme très étroite de paramètres. Jusqu'à récemment, c'était le cas pour les mesures de bruit de courant à l'aide d'un microscope à effet tunnel. Cette thèse décrit une solution permettant d'élargir le champ d'application des mesures de bruit de courant, de la microscopie et de la spectroscopie à effet tunnel. Après avoir présenté les deux techniques, la méthode utilisée pour effectuer simultanément des mesures de bruit de courant et des mesures STM/S conventionnelles est décrite. Enfin, un certain nombre d'études différentes sur les supraconducteurs et les semi-conducteurs réalisées avec cette nouvelle technique sont discutées, mettant en évidence la myriade de possibilités et d'informations qui peuvent être obtenues dans l'étude de la matière quantique.
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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