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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

241

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Process variability Ensemble methods 1-bit acquisition Transistors Three-dimensional integrated circuits Low-power Test efficiency Neuromorphic computing Qubit Analog signals Integrated circuit testing Noise measurement Indirect test ZigBee Microprocessors Education Quantum Carbon nanotube OQPSK RF test Convective accelerometer Electrothermal simulation RF integrated circuits FDSOI technology Computer architecture Oscillatory neural networks ONN Alternate testing Side-channel analysis Deep learning Pattern recognition Hardware Magnetic tunneling Self-oscillations Calibration Through-silicon vias Hardware security Countermeasures Logic gates Bioimpedance spectroscopy Integrated circuit modeling Digital ATE Automatic test pattern generation One bit acquisition ADC Oscillatory neural network 3D integration Test confidence Edge artificial intelligence edge AI Insulator-Metal-Transition IMT MEMS Time-domain analysis Test Side-channel attacks Specifications Indirect testing Quantum computing Delays Bioimpedance NP-hard problems Electronic tagging Phase shifter RSA Error mitigation Sensors EM fault injection Current mirror Machine-learning algorithms Oscillatory Neural Networks Performance Switches Noise Three-dimensional displays Vanadium dioxide Technology computer-aided design TCAD Analog/RF integrated circuits Power demand Edge AI Integrated circuits Image Edge Detection Reliability Carbon nanotubes Mutual information SRAM Integrated circuit noise Fault attacks Bio-logging Digital signal processing Phase noise Test cost reduction Oscillatory Neural Network Beyond-CMOS devices SEU Circuit simulation Energy Evaluation Low-cost measurements Fault tolerance Interconnects Circuit faults Self-heating