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Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Influence de la vitesse de scan sur la microstructure de murs fins en IN718, produits par dépôt sous énergie concentrée

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04011649 , version 1 (02-03-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04011649 , version 1

Citer

Michèle Bréhier, Daniel Weisz-Patrault, Christophe Tournier. Influence de la vitesse de scan sur la microstructure de murs fins en IN718, produits par dépôt sous énergie concentrée. Conference Manufacturing21, Ecole Normale Supérieure Paris-Saclay [ENS Paris Saclay], Oct 2022, Gif Sur Yvette, France. ⟨hal-04011649⟩
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