Article Dans Une Revue
Microelectronics Journal
Année : 2001
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https://hal.science/hal-00183093
Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:31:48
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183093 , version 1
Citer
Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Experimental procedure for the evaluation of GaAs-based HBT's reliability. Microelectronics Journal, 2001, 32, pp.1. ⟨hal-00183093⟩
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