Experimental procedure for the evaluation of GaAs-based HBT's reliability - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Journal Année : 2001
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183093 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183093 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Experimental procedure for the evaluation of GaAs-based HBT's reliability. Microelectronics Journal, 2001, 32, pp.1. ⟨hal-00183093⟩
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