Application des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2006

Application des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux

Pierre Bordet

Domaines

Cristallographie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00257759 , version 1 (20-02-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00257759 , version 1

Citer

Pierre Bordet. Application des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structurale des matériaux. Philippe Goudeau et René Guinebretière. Rayons X et Matière - RX 2006, Hermes Science - Lavoisier, pp.46-67, 2006. ⟨hal-00257759⟩

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CNRS
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