Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2008
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00391742
Soumis le : jeudi 4 juin 2009-15:51:12
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:10:51
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00391742 , version 1
Citer
S. Poli, M.G. Pala, T. Poiroux, S. Deleonibus, G. Baccarani. Size Dependence of Surface-Roughness-Limited Mobility in Silicon-Nanowire FETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2008, 55 (11), pp.2968-2976. ⟨hal-00391742⟩
43
Consultations
0
Téléchargements