Size Dependence of Surface-Roughness-Limited Mobility in Silicon-Nanowire FETs - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 2008

Size Dependence of Surface-Roughness-Limited Mobility in Silicon-Nanowire FETs

S. Poli
  • Fonction : Auteur
T. Poiroux
  • Fonction : Auteur
S. Deleonibus
  • Fonction : Auteur
G. Baccarani
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00391742 , version 1 (04-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00391742 , version 1

Citer

S. Poli, M.G. Pala, T. Poiroux, S. Deleonibus, G. Baccarani. Size Dependence of Surface-Roughness-Limited Mobility in Silicon-Nanowire FETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2008, 55 (11), pp.2968-2976. ⟨hal-00391742⟩
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