Crystal quality characterization of MO-VPE InxGa1-xN thin films using disorder parameters - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710795 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710795 , version 1

Citer

Vanessa Gorge, Anne Migan-Dubois, Christelle Pareige, Zakaria Djebbour, K. Pantzas, et al.. Crystal quality characterization of MO-VPE InxGa1-xN thin films using disorder parameters. E-MRS Spring Meeting 2011, May 2011, Nice, France. ⟨hal-00710795⟩
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