Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2001
Isabelle Dufour : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00743156
Soumis le : jeudi 18 octobre 2012-11:48:23
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00743156 , version 1
Citer
C. Rembe, H. Aschemann, S. Wiesche, E.P. Hofer, Hélène Debéda, et al.. Testing and improvement of micro-optical-switch dynamics. Microelectronics Reliability, 2001, 41 (3), pp.471-480. ⟨hal-00743156⟩
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