Failure analysis of GaAs microwave devices with plastic encapsulation by electro-optical techniques - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2013

Failure analysis of GaAs microwave devices with plastic encapsulation by electro-optical techniques

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00905892 , version 1 (18-11-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00905892 , version 1

Citer

W. Ben Naceur, N. Malbert, N. Labat, H. Frémont, D. Carisetti, et al.. Failure analysis of GaAs microwave devices with plastic encapsulation by electro-optical techniques. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9), pp 1375-1380. ⟨hal-00905892⟩
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