Depth profiling of melting and metallization in Si(111) and Si(001) surfaces - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Physical Review Letters Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01004823 , version 1 (11-06-2014)

Identifiants

Citer

Roberto Gunnella, Mushtaq Ali, Mamatimin Abbas, Francesco d'Amico, Emiliano Principi, et al.. Depth profiling of melting and metallization in Si(111) and Si(001) surfaces. Physical Review Letters, 2011, pp.166103. ⟨10.1103/PhysRevLett.107.166103⟩. ⟨hal-01004823⟩
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