Advanced analysis tool for X-ray photoelectron spectroscopy profiling: Cleaning of perovskite SrTiO3 oxide surface using argon cluster ion source - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2016

Advanced analysis tool for X-ray photoelectron spectroscopy profiling: Cleaning of perovskite SrTiO3 oxide surface using argon cluster ion source

D. Aureau
Karl Ridier
N. Keller
M. Bouttemy
A. Etcheberry
A. Fouchet
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02070930 , version 1 (18-03-2019)

Identifiants

Citer

D. Aureau, Karl Ridier, B. Berini, Y. Dumont, N. Keller, et al.. Advanced analysis tool for X-ray photoelectron spectroscopy profiling: Cleaning of perovskite SrTiO3 oxide surface using argon cluster ion source. Thin Solid Films, 2016, 601, pp.89-92. ⟨10.1016/j.tsf.2015.11.017⟩. ⟨hal-02070930⟩
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