Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2016
Niels Keller : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02070930
Soumis le : lundi 18 mars 2019-12:23:39
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
D. Aureau, Karl Ridier, B. Berini, Y. Dumont, N. Keller, et al.. Advanced analysis tool for X-ray photoelectron spectroscopy profiling: Cleaning of perovskite SrTiO3 oxide surface using argon cluster ion source. Thin Solid Films, 2016, 601, pp.89-92. ⟨10.1016/j.tsf.2015.11.017⟩. ⟨hal-02070930⟩
Collections
16
Consultations
0
Téléchargements