Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2019
Laurence BEN TITO : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02078889
Soumis le : lundi 25 mars 2019-16:48:55
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10
Dates et versions
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Identifiants
- HAL Id : hal-02078889 , version 1
- DOI : 10.1007/s10836-019-05785-0
Citer
Maha Kooli, Giorgio Di Natale, Alberto Bosio. Memory-Aware Design Space Exploration for Reliability Evaluation in Computing Systems. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2019, ⟨10.1007/s10836-019-05785-0⟩. ⟨hal-02078889⟩
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