Number and current fluctuations in submicron semiconductor structures - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1993
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02422332 , version 1 (21-12-2019)

Identifiants

Citer

Luca Varani, Lino Reggiani, Tilmann Kuhn, Patrice Houlet, Jean Claude Vaissiére, et al.. Number and current fluctuations in submicron semiconductor structures. 12th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, 1993, St. Louis, United States. pp.329-332, ⟨10.1063/1.44661⟩. ⟨hal-02422332⟩
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