Communication Dans Un Congrès
Année : 2019
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02515677
Soumis le : lundi 23 mars 2020-15:36:51
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02515677 , version 1
Citer
A. Durier, S. Ben Dhia, T. Dubois. Study of the Radiated Immunity of an Op-Amp Using Near Field Scan Immunity Method. Proceedings of EMC Compo, 2019, 2019, Hangzhou, China. ⟨hal-02515677⟩
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