Characterization of peening-induced residual stresses on mumetal material using needle probes technique - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Characterization of peening-induced residual stresses on mumetal material using needle probes technique

Tene Deffo - Gupta - Ducharne - Tsafack - Morel - INTERMAG MMM - GG - 13.pdf (86.82 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02560987 , version 1 (07-05-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02560987 , version 1

Citer

Yves Armand Tene Deffo, Bhaawan Gupta, Benjamin Ducharne, Pierre Tsafack, Laurent Morel. Characterization of peening-induced residual stresses on mumetal material using needle probes technique. 2019 Joint MMM-Intermag, Jan 2019, Jan 2019, Washington, United States. ⟨hal-02560987⟩
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