Chapitre D'ouvrage
Année : 2020
Alberto Bosio : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03111313
Soumis le : vendredi 15 janvier 2021-11:37:39
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:20
Citer
Alberto Bosio. Digital Testing. Silicon Systems for Wireless LAN, World Scientific, pp.341-359, 2020, ⟨10.1142/9789811210723_0013⟩. ⟨hal-03111313⟩
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