Accurate post-mortem alignment for Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM) tomography - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Ultramicroscopy Année : 2021

Accurate post-mortem alignment for Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM) tomography

H. Yuan
  • Fonction : Auteur
- van de Moortele B.
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hal-03331670 , version 1 (02-08-2023)

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Paternité - Pas d'utilisation commerciale

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H. Yuan, - van de Moortele B., Thierry Epicier. Accurate post-mortem alignment for Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM) tomography. Ultramicroscopy, 2021, 228, ⟨10.1016/j.ultramic.2021.113265⟩. ⟨hal-03331670⟩
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