X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Nuclear Materials Année : 2001

Dates et versions

hal-03555253 , version 1 (03-02-2022)

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Citer

S. van den Berghe, F. Miserque, T. Gouder, B. Gaudreau, M. Verwerft. X-ray photoelectron spectroscopy on uranium oxides: a comparison between bulk and thin layers. Journal of Nuclear Materials, 2001, 294 (1-2), pp.168-174. ⟨10.1016/S0022-3115(01)00461-5⟩. ⟨hal-03555253⟩
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