Mesure de température par une méthode de thermoréflectance multispectrale - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Mesure de température par une méthode de thermoréflectance multispectrale

Samuel Lozachmeur
  • Fonction : Auteur
Anass Jakani
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1067549
Noël Richard
Raphaël Sommet

Résumé

L’objectif final de ce travail est de produire une cartographie des températures d’ un composant ou d’ un circuit microélectronique avec la meilleure précision possible en régime permanent puis en régime transitoire. Le banc de thermoréflectance utilisé [1] produit une image multispectrale pour établir la température en chaque pixel via le coefficient de thermoréflexion. Ce travail porte sur l’analyse de la distribution spectrale des pixels afin d’identifier la cartographie des matériaux et donc le coefficient thermique à associer à chaque pixel. Cette analyse s’appuie la pseudo-divergence de Kullback- Leibler et illustre l’approche proposée par un exemple.

Domaines

Electronique
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03745093 , version 1 (03-08-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03745093 , version 1

Citer

Samuel Lozachmeur, Anass Jakani, Noël Richard, Raphaël Sommet, Jean-Christophe Nallatamby. Mesure de température par une méthode de thermoréflectance multispectrale. XXIIèmes Journées Nationales Microondes (JNM) 2022, Jun 2022, Limoges, France. ⟨hal-03745093⟩
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