Article Dans Une Revue
Surface and Interface Analysis
Année : 2002
Roland BENOIT : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cnrs.hal.science/hal-03878186
Soumis le : mardi 29 novembre 2022-16:41:37
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:29
Citer
N. Mottu, M. Vayer, R. Benoit, R. Erre. Is XPS combined with argon ion sputtering pertinent for depth profiling molybdenum-implanted stainless-steel layers?. Surface and Interface Analysis, 2002, 34 (1), pp.276-279. ⟨10.1002/sia.1299⟩. ⟨hal-03878186⟩
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