A Case Study on the Approximate Test of Integrated Circuits - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016
Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01718609 , version 1 (27-02-2018)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01718609 , version 1

Citer

Imran Wali, Arnaud Virazel, Patrick Girard, Mario Barbareschi, Alberto Bosio. A Case Study on the Approximate Test of Integrated Circuits. AC: Approximate Computing, Oct 2016, Pittsburgh, PA, United States. ⟨lirmm-01718609⟩
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