Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples - Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2024

Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples

Développement de premières structures de référence pour l'étalonnage des mesures de résistance et de courant en microscopie à force atomique à sonde conductrice

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Dates et versions

hal-04569986 , version 1 (06-05-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04569986 , version 1

Citer

François Piquemal, José A. Morán-Meza, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Christian Ulysse, et al.. Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples. 25ème Forum des microscopies à sondes locales, Apr 2024, Lyon, France. Actes du 25ème Forum des microscopies à sondes locales (format pdf), 2024. ⟨hal-04569986⟩
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