Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2015
Georges Bremond : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02073148
Soumis le : mardi 19 mars 2019-16:22:04
Dernière modification le : vendredi 3 mai 2024-11:43:43
Citer
L. Wang, J. Laurent, J. Chauveau, V. Sallet, F. Jomard, et al.. Nanoscale calibration of n-type ZnO staircase structures by scanning capacitance microscopy. Applied Physics Letters, 2015, 107 (19), pp.192101. ⟨10.1063/1.4935349⟩. ⟨hal-02073148⟩
Collections
35
Consultations
0
Téléchargements