Continuous wave and ultra-fast reflectivity studies for the determination of GaN excitonic oscillator strengths as a function of the in-plane biaxial strain - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Superlattices and Microstructures Année : 2005
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Dates et versions

hal-00093844 , version 1 (13-09-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00093844 , version 1

Citer

Ouloum Aoudé, Pierre Disseix, Joël Leymarie, Aime Vasson, E. Aujol, et al.. Continuous wave and ultra-fast reflectivity studies for the determination of GaN excitonic oscillator strengths as a function of the in-plane biaxial strain. Superlattices and Microstructures, 2005, 40, pp.166. ⟨hal-00093844⟩

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