Determination of the refractive indexes of AlN, GaN and AlxGa1-xN grown on (III) Si substrates. - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2003
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00272613 , version 1 (11-04-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00272613 , version 1

Citer

N. Antoine-Vincent, Joël Leymarie, F. Natali, M. Mihailovic, Aime Vasson, et al.. Determination of the refractive indexes of AlN, GaN and AlxGa1-xN grown on (III) Si substrates.. Journal of Applied Physics, 2003, pp.5226. ⟨hal-00272613⟩

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