Determination of the refractive indexes of AlN, GaN and AlxGa1-xN grown on (III) Si substrates.
N. Antoine-Vincent
(1)
,
Joël Leymarie
(1)
,
F. Natali
(1)
,
M. Mihailovic
(1)
,
Aime Vasson
(1)
,
Pierre Disseix
(1)
,
D. Byrne
(1)
,
F. Semond
(1)
Joël Leymarie
- Fonction : Auteur
- PersonId : 835166
Pierre Disseix
- Fonction : Auteur
- PersonId : 169577
- IdHAL : pierre-disseix
- ORCID : 0000-0003-4057-6410
- IdRef : 138482438