Evaluation of the surface bonding energy of an InP membrane bonded oxide-free to Si using instrumented nanoindentation - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2013

Evaluation of the surface bonding energy of an InP membrane bonded oxide-free to Si using instrumented nanoindentation

K. Pantzas
G. Patriarche
E. Le Bourhis
  • Fonction : Auteur
A. Itawi
  • Fonction : Auteur
G. Beaudoin
  • Fonction : Auteur
I. Sagnes
A. Talneau
  • Fonction : Auteur
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Dates et versions

hal-00872063 , version 1 (27-05-2022)

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Citer

K. Pantzas, G. Patriarche, E. Le Bourhis, David Troadec, A. Itawi, et al.. Evaluation of the surface bonding energy of an InP membrane bonded oxide-free to Si using instrumented nanoindentation. Applied Physics Letters, 2013, 103, pp.081901-1-4. ⟨10.1063/1.4817675⟩. ⟨hal-00872063⟩
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