Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2010

Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD

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hal-02138707 , version 1 (24-05-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02138707 , version 1

Citer

Thierry Epicier, Thierry Douillard, Hui Yuan. Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD. EBSD 2010, May 2010, Saint-Etienne, France. ⟨hal-02138707⟩
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