Complete Determination of Morphological Properties and Dielectric Function of Au Nanoparticles in Photoresist Films by Ellipsometry - CNRS - Centre national de la recherche scientifique
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Complete Determination of Morphological Properties and Dielectric Function of Au Nanoparticles in Photoresist Films by Ellipsometry

Domaines

Optique / photonique

Jean-Baptiste VU VAN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://utt.hal.science/hal-02481695

Soumis le : lundi 17 février 2020-16:08:46

Dernière modification le : lundi 14 octobre 2024-18:20:52

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Dates et versions

hal-02481695 , version 1 (17-02-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02481695 , version 1

Citer

Yann Battie, Irene Izquierdo-Lorenzo, Amandine Resano-Garcia, Aotmane En Naciri, Suzanna Akil, et al.. Complete Determination of Morphological Properties and Dielectric Function of Au Nanoparticles in Photoresist Films by Ellipsometry. 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7), Jun 2016, Berlin, Germany. ⟨hal-02481695⟩

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