Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010

Dates et versions

hal-00674295 , version 1 (27-02-2012)

Identifiants

Citer

S. Gosh, François Marc, Cristell Maneux, Brice Grandchamp, Gilles Amadou Koné, et al.. Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT. Microelectronics Reliability, 2010, (9-11) (50), pp. 1554-1558. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.097⟩. ⟨hal-00674295⟩
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