Novel TEM Microscopy and Electron Diffraction Techniques to Characterize Cultural Heritage Materials: From Ancient Greek Artefacts to Maya Mural Paintings - CNRS - Centre national de la recherche scientifique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Scanning Année : 2019

Novel TEM Microscopy and Electron Diffraction Techniques to Characterize Cultural Heritage Materials: From Ancient Greek Artefacts to Maya Mural Paintings

Stavros Nicolopoulos
  • Fonction : Auteur
Partha Das
  • Fonction : Auteur
Alejandro Gómez Pérez
  • Fonction : Auteur
Nikolaos Zacharias
  • Fonction : Auteur
Samuel Tehuacanero Cuapa
  • Fonction : Auteur
Jesús Angel Arenas Alatorre
  • Fonction : Auteur
Edgar Rauch
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matériaux

Dates et versions

hal-02347697 , version 1 (05-11-2019)

Identifiants

Citer

E.F. Rauch, Stavros Nicolopoulos, Partha Das, Alejandro Gómez Pérez, Nikolaos Zacharias, et al.. Novel TEM Microscopy and Electron Diffraction Techniques to Characterize Cultural Heritage Materials: From Ancient Greek Artefacts to Maya Mural Paintings. Scanning, 2019, 2019, pp.1-13. ⟨10.1155/2019/4870695⟩. ⟨hal-02347697⟩
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