Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : vendredi 3 novembre 2023-11:35:13
Dernière modification le : vendredi 18 octobre 2024-13:44:03
Archivage à long terme le : dimanche 4 février 2024-18:05:40