Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs - CNRS - Centre national de la recherche scientifique
Conference Poster Year : 2022

Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs

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OCVD carrier lifetime

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Engineering Sciences [physics] Physics [physics]
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  • HAL Id : hal-04268493 , version 1

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Aurélien Houbert, Arnaud Perona, Matthieu Caussanel, Hervé Duval, Antoine Lemaire, et al.. Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs. Journées Nationales du Photovoltaïque - JNPV 2022, Nov 2022, Dourdan, France. ⟨hal-04268493⟩

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