Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs - CNRS - Centre national de la recherche scientifique
Poster De Conférence Année : 2022

Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs

Mots clés

OCVD carrier lifetime

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Physique [physics]
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Soumis le : vendredi 3 novembre 2023-11:35:13

Dernière modification le : vendredi 18 octobre 2024-13:44:03

Archivage à long terme le : dimanche 4 février 2024-18:05:40

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  • HAL Id : hal-04268493 , version 1

Citer

Aurélien Houbert, Arnaud Perona, Matthieu Caussanel, Hervé Duval, Antoine Lemaire, et al.. Etude expérimentale et numérique de la réponse OCVD (Open-Circuit Voltage Decay) de jonctions à base de GaAs. Journées Nationales du Photovoltaïque - JNPV 2022, Nov 2022, Dourdan, France. ⟨hal-04268493⟩

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