Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Année : 2024
Jérôme Antoni : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cnrs.hal.science/hal-04915077
Soumis le : lundi 27 janvier 2025-17:13:54
Dernière modification le : mardi 28 janvier 2025-03:22:06
Citer
Ge Xin, Qitian Zhong, Yaqiang Jin, Zhe Li, Yifei Chen, et al.. Autonomous Bearing Fault Diagnosis Based on Fault-Induced Envelope Spectrum and Moving Peaks-Over-Threshold Approach. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2024, 73, pp.1-12. ⟨10.1109/TIM.2024.3379074⟩. ⟨hal-04915077⟩
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