Modelling of self-heating effect in FDSOI and bulk MOSFETs operated in deep cryogenic conditions
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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francis balestra : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cnrs.hal.science/hal-03852787
Soumis le : lundi 28 novembre 2022-15:47:32
Dernière modification le : mardi 2 juillet 2024-11:58:45