Comprehensive Kubo-Greenwood modelling of FDSOI MOS devices down to deep cryogenic temperatures
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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francis balestra : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://cnrs.hal.science/hal-03852877
Soumis le : lundi 28 novembre 2022-15:45:42
Dernière modification le : samedi 18 janvier 2025-20:00:15